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新品发布:电磁干扰去耦夹 EMID 1M
作者:  日期:2020-05-27  浏览次数:177次  来源:
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产品介绍

      EMID 1M电磁干扰去耦夹用于电快速瞬变脉冲群抗扰度试验(GB/T 17626。4、IEC 61000-4-4)中的干扰信号去耦,可以将瞬变脉冲群信号衰减20 dB以上。也可用于1 MHz以上干扰信号的衰减,衰减系数大于10 dB(与信号频率有关)。本产品采用卡扣式结构,可以直接套在待去耦的线缆上,使用方便。同时去耦夹还具有与去耦线缆物理隔离的特点。

附图:EMID 1M电磁干扰去耦夹衰减系数测试原理框图


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